場發(fā)射掃描電子顯微鏡-預(yù)公告

場發(fā)射掃描電子顯微鏡預(yù)公告

1.采購項(xiàng)目：場發(fā)射掃描電子顯微鏡（FESEM）1臺(tái)

關(guān)鍵技術(shù)要求：

1）分辨率：

（1）優(yōu)于1.0nm@30keV。

（2）優(yōu)于0.5nm@15keV。

（3）優(yōu)于1.0nm@1keV。

2）放大倍數(shù)范圍：12X～1,000,000X，連續(xù)可調(diào)。

3）樣品室尺寸：內(nèi)部直徑≥300mm，高度≥250mm。

4）樣品臺(tái)移動(dòng)范圍：x=y≥120mm，z軸≥40mm。

3.有意向進(jìn)行技術(shù)交流的潛在投標(biāo)人可自本公告之日起至2025年7月4日，每天（節(jié)假日除外）北京時(shí)間9:00-16:00時(shí)與以下業(yè)務(wù)

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編輯：365trade